rahila.asilbaeva@yu.edu.kz
г. Актау, 32 мкр., университет Есенова
Старший преподаватель
Магистр физики
« квантовая механика», «электричество и магнетизм», «Механика», «основы молекулярной физики и термодинамики».
Оптические свойства нанопроводных
Comparative analysis of silicon nanostructures by x-ray diffraction technique, IOP: Conference series:Materials science and engineering, 2019, 475, -Р.012010-1-012010-5.
Silicon and germanium nanostructures formed by spark discharge plasma. JPCS. 2019, Vol. 1238, № 1 (012052), -P. 1-6.
Reflectance Modification in Nanostructured Silicon layers with gradient porosity. Bulletin of the Lebedev Physics Institute, -2019. Vol. 46, № 10. -P. 314–318.
Nonlinear analysis of the degree of order and chaos of morphology of porous silicon nanostructures. CEUR Workshop Proc. 2019. V.2391, -Р.187-197.
